摘要：摘要电路的本质安全性能需要在IEC火花试验装置上进行爆炸试验来考核．钨丝数量以及凹槽打火间隔均影响火花试验装置的灵敏度，通常近似认为凹槽打火间隔固定为凹槽宽度2mm不变．本文通过数学计算，得到了钨丝与镉盘凹槽边缘的接触、分离规律，绘制了镉盘凹槽打火间隔分布直方图，得出凹槽打火间隔范围为1．94～5．68mm的结论．基于凹槽实际打火间隔，分析了不同时间常数下容性电路的有效打火次数，发现实际有效火花数目最大可达1952个，区别于通常认为的1600个．分析结果对提高容性电路检测灵敏度具有指导意义．
分类：期刊> 自然科学与工程技术> 工程科技II> 综合科技B类综合
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关键词：iec火花试验装置 本质安全 打火间隔 检测灵敏度
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