摘要:文章以高纯度纳米硅粉为研究对象,研究了三种常用纳米颗粒粒径检测方法(激光粒度仪法、比表面积法、X射线衍射法)的检测结果。实验结果表明:与激光粒度仪法相比,BET法与X射线衍射法的测量结果都偏小。
分类:期刊> 自然科学与工程技术> 工程科技I> 材料科学
收录:知网收录(中) > 维普收录(中) > 万方收录(中) > CA 化学文摘(美) > 剑桥科学文摘 > 国家图书馆馆藏 > 上海图书馆馆藏
关键词:纳米硅粉 粒径 测试方法
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
摘要:文章以高纯度纳米硅粉为研究对象,研究了三种常用纳米颗粒粒径检测方法(激光粒度仪法、比表面积法、X射线衍射法)的检测结果。实验结果表明:与激光粒度仪法相比,BET法与X射线衍射法的测量结果都偏小。
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