摘要：本文针对目前MCR型的磁控电抗器中的触发可靠性问题,详细介绍了MCR型磁控电抗器的过零检测电路和晶闸管驱动电路的设计思想,对硬件电路设计上进行了优化,对硬件进行了详细的可靠性分析。通过研究分析触发脉冲的幅值和宽度,进而提出了可增加晶闸管驱动可靠性的方案。实验结果表明本文所设计的过零检测电路和晶闸管驱动电路解决了晶闸管触发信号的时间基准问题。从而保证了MCR型磁控电抗器性能上的优越性。
分类：期刊> 自然科学与工程技术> 工程科技II> 电力工业
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关键词：相位补偿 过零检测 无功补偿控制 触发信号
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