摘要:对当前集成电路制造工艺的主要挑战、研究现状进行了综述,并对其发展趋势进行了展望。
分类:期刊> 自然科学与工程技术> 信息科技> 无线电电子学
收录:知网收录(中) > 维普收录(中) > 万方收录(中) > 国家图书馆馆藏 > 上海图书馆馆藏
关键词:集成电路 摩尔定律 特征尺寸 制造工艺
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
摘要:对当前集成电路制造工艺的主要挑战、研究现状进行了综述,并对其发展趋势进行了展望。
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