摘要：<正> 0507383元素失效相依时系统失效概率的计算[刊,中]/吴穹//系统工程与电子技术.—2004,26(12).—1933-1935(D)0507384EMC 测试中线缆辐射分析及抑制[刊,中]/吴桂芹//电子质量.—2004,(12).—25-26(D)在 EMC 测试中.被测设备(EUT)的电缆电磁辐射较难抑制。本文通过交调干扰分析得出 EUT 内部的可能产生的频谱,并对这些频谱进行滤波处理,使其耦合到电缆线上的电磁辐射较小,同时对电缆上的电磁辐射进行屏蔽处理,保证 EUT 能通过 EMC 的辐射发射测试。参2
分类：期刊> 自然科学与工程技术> 信息科技> 无线电电子学
收录：知网收录(中)
关键词：可靠性工程 屏蔽处理 辐射发射 电缆线 交调干扰 电子设备 被测设备 失效概率 电子质量 环境试验
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
