摘要：微区能量色散X射线荧光光谱仪（μ-EDXRF）是进行物质微区成分分析和元素分布分析的工具,在定性和半定量分析中发挥着重要的作用,被广泛应用于地质学、考古学、材料学等领域。本文对μ-EDXRF的晶体分析谱图中常出现的一些干扰峰进行研究,总结出识别、减小与消除干扰峰影响等问题的方法,确保分析结果的准确性。
分类：期刊> 自然科学与工程技术> 基础科学> 物理学
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关键词：微区能量色散x射线荧光光谱仪 定性分析 特征x射线 干扰峰
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