摘要：IP核测试验证的目的在于检测其是否存在功能和时序错误,从而对IP核进行修改,提高产品的可靠性。结合用户设计的IP核测试要求,研究IP核测试验证方案与优化流程、系统性测试优化、自测试及其测试复用和测试集成与优化,以当今高速接口芯片关键测试测试共性问题为例,着重在IP核评测实施上提供具体ATE测试验证方案及流程,通过高速接口芯片实际开发测试的研究和实践,提出经济性、低成本和共性的自动化测试(ATE)解决方案及流程,从成本和效率上符合未来高速接口芯片的测试需求。
分类：期刊> 自然科学与工程技术> 工程科技II> 电力工业
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关键词：集成电路测试 ip核测试验证 测试流程 高速接口ip 协同设计与测试流程
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