摘要:针对以Pcap01为芯片的微电容测量系统高精度性问题,提出一种基于STM32f103单片机为控制器的微电容测量电路硬件设计,并可对0~3.5nF之间的微小电容进行高精度测量;该设计基于TDC(时间数字转换原理),系统硬件主要由STM32f103单片机、Pcap01微电容测量芯片、显示模块和电源管理模块组成;整个仪器的硬件电路设计在同一块PCB电路板上,可增加集成度、减少仪器电路体积、增加空间利用率、提高硬件电路的电磁兼容性、方便各个模块之间的通讯;同时,编程了Pcap01初始化与单片机软件设计,在硬件电路的基础上实现了SPI通讯、显示屏控制,最终实现了便携式的电容测量;结果表明,该系统测量精度高,实时性好,可有效测量微小电容值,在以56pF为参考电容时,测量精度可达13.5fF。
分类:期刊> 自然科学与工程技术> 信息科技> 自动化技术
收录:统计源期刊(中国科技论文优秀期刊) > 知网收录(中) > 维普收录(中) > 万方收录(中) > SA 科学文摘(英) > 剑桥科学文摘 > 国家图书馆馆藏 > 上海图书馆馆藏
关键词:stm32 pcap01 微弱电容检测
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社