摘要：在集成电路开发中，原型芯片硅后可观测性差，使得硅后调试变得异常困难，延长了芯片的开发周期.基于追踪的可调试性设计通过在芯片中添加追踪缓存以存储关键的追踪信号，可提高芯片的可观测性.但由于调试硬件开销有限，如何选择有限的追踪信号以提高芯片可观测性成为硅后调试的研究热点.该文提出了一种基于寄存器簇恢复的追踪信号选择方法，其可分为两步：寄存器簇生成、寄存器簇融合和选择，其中寄存器簇生成根据寄存器的反馈环信息构建初始寄存器簇，而寄存器簇融合和选择可以通过簇合并优化初始寄存器簇，并选择对状态恢复率提升最大的寄存器簇作为追踪寄存器簇.当追踪寄存器簇确定后，簇输入即为追踪信号，簇内寄存器即为需获取的快照信号.在基准电路ISCAS89上的实验结果表明，相对于现有的追踪信号选择方法，该方法可获得更高的状态恢复率，比现有最好的选择结果平均可提高7%，最高可提高57%，同时算法运行时间更短，比现有最快的选择方法平均也有54倍的加速，而仅需增加不到2%的存储开销和不到1%的逻辑开销.
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关键词：追踪调试 追踪信号选择 状态恢复率 硅后调试
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