摘要：采用固相烧结法制备了不同组分Pb（ZrxTi1-x）O3（x=0.8、0.7、0.48、0.3、0.2）陶瓷.分别采用TG/DSC分析仪、X射线衍射仪、扫描电子显微镜和阻抗分析仪LCR分析了粉体的热分解温度;表征了PZT压电陶瓷的微观结构与形貌;并讨论了不同Zr/Ti比对PZT陶瓷的介电性能的影响.结果表明：Pb（ZrxTi1-x）O3（x=0.8、0.7、0.48、0.3、0.2）陶瓷靶材在850T：预烧2h后,得到了PZT主晶相成相明显的粉末.在1050℃烧结8h得到了晶界清晰、晶粒尺寸分布较均匀、较致密、具有纯的钙钬矿结构的PZT陶瓷.不同Zr/Ti比对PZT陶瓷的微观结构和性能有重要影响,测试了不同组分PZT陶瓷在1kHz处的介电常数值,得出当x=0.48时,PZT陶瓷介电常数表现最佳,介电损耗最小,s=534,tanS=0.04.
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关键词：pzt陶瓷 固相烧结 微观结构 介电性能
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