摘要：本文提出了评估DSP电路单粒子翻转效应的试验方法,该方法包含单独静态检测SRAM、通过CPU读取内部寄存器和功能检测等三种方式.根据该方法,设计了DSP电路的单粒子翻转检测软件系统和硬件检测系统,并在HI-13串列重离子加速器上进行了单粒子翻转验证试验,获得了待测DSP器件的地面模拟翻转率数据.利用在轨错误率计算软件,计算出在标准辐照注量（1.0E＋7icons/cm2）下电路的SEU在轨软错误率约为1.8E-12错误/位天（GEO,等效3mm Al屏蔽）,运用该方法可以较好的评估DSP电路的单粒子翻转性能.
分类：期刊> 自然科学与工程技术> 信息科技> 电子信息科学综合
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关键词：单粒子翻转 试验方法 抗辐射加固 dsp
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