摘要：利用原子力显微镜对碳纳米管进行微操纵研究.首先,选择出适合系统使用的基底;然后,在基底上利用原子力显微镜接触模式,成功地对碳纳米管束进行了推动、切割和弯曲等操纵;最后,讨论了影响微操纵的一些系统参数,总结出该系统微操纵的适合参数为:参考点4.0～5.0,扫描频率20 Hz～50 Hz.该研究为微/纳米机械装配技术的发展进行了有益的探索.
分类：期刊> 自然科学与工程技术> 信息科技> 无线电电子学
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关键词：原子力显微镜 基底选择 碳纳米管
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