摘要：针对传统测速方法受信号质量干扰严重这一问题,将代数导数估计法（ADEM）引入光电编码器角速度测量领域,建立了基于ADEM的测速数学模型,分析了展开阶数N、初始化周期T和测速奇点域[0,tε）等因素对转速测量精度的影响,提出了针对性的测速改进方案。在FPGA电路平台上开展了ADEM角速度测量的有效性验证实验,并将ADEM与传统的有限差分法（FDM）测速结果进行比对。不同转速下,4阶ADEM测速精度均能达到±0.1 r/min;信号非正交或占空比非50%时,ADEM保持±0.1 r/min测速精度而有限差分法精度为±1 r/min,实验结果证明ADEM在编码器输出信号非理想时仍具有转速计算的高鲁棒性,可有效实现对编码器角速度稳定、准确的测量。
分类：期刊> 自然科学与工程技术> 工程科技II> 仪器仪表工业
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关键词：代数导数估计法 光电编码器 测速 有限差分法
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