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Micron

Micron杂志,由Elsevier Ltd出版,于1993年创刊,Bimonthly,出版语言English,ISSN:0968-4328,E-ISSN:1878-4291。

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Micron
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SCI SCIE EI

杂志介绍

JCR分区
Q2
中科院分区
3区
影响因子
2.7
CiteScore
4.5
期刊收录
SCI、SCIE、EI

Micron(中文译名:《美光》),ISSN:0968-4328,EISSN:1878-4291,是Elsevier Ltd出版的国际性学术期刊,创刊于1993年,以Bimonthly形式稳定发行,2026年总发文量约126篇。该刊采用非OA开放访问,学科归属为工程技术 - 显微镜技术。该刊是工程技术、显微镜技术领域的国际权威刊物,已被SCI(科学引文索引)、SCIE(科学引文索引扩展版)、EI(工程索引)等国际主流学术数据库收录。2026年期刊影响因子达2.7,2025年期刊CiteScore为4.5,2025年期刊自引率约3.7%,在中科院期刊分区体系中位列工程技术大类3区,在所属学科领域具备高学术影响力与国际认可度。Micron长期聚焦工程技术、显微镜技术及相关产业的技术应用前沿,平均审稿周期约3.0个月,审稿流程高效稳定。在稿件录用评判中,该刊将创新性与前沿性作为核心遴选标准,重点收录能够对工程技术、显微镜技术领域的落地与发展产生实质性推动价值的研究成果。

从全球发文格局来看,CHINA MAINLANDUSA、Poland、GERMANY (FED REP GER)、Brazil、England、France等为核心发文国家与地区;CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)CHINESE ACADEMY OF SCIENCES、CENTRAL SOUTH UNIVERSITY、UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE)、POLISH ACADEMY OF SCIENCES、JILIN UNIVERSITY、CHANGCHUN UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY等高校与科研机构是期刊的主要发文单位。

期刊评价

名词解释:

影响因子(Impact Factor, IF):指该期刊前两年发表的文章,在第三年的平均被引用次数。它反映了期刊的近期平均影响力和热度。

中科院分区:中科院分区表是国内主流的学术期刊分级评价工具,核心意义是建立跨学科可比的统一评价标尺,为职称评审、学位授予、科研立项等科研管理工作提供标准化量化依据,同时帮助科研人员筛选优质期刊、规避学术风险,适配国内本土化的科研评价需求。

期刊分区表

《新锐期刊分区表》(2026年3月发布)

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
3区
MICROSCOPY 显微镜技术
3区
否 否

期刊分区表(2025年3月升级版)

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
3区
MICROSCOPY 显微镜技术
3区
否 否

期刊分区表(2023年12月升级版)

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
3区
MICROSCOPY 显微镜技术
3区
否 否

JCR分区

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:MICROSCOPY SCIE Q2 3 / 8

68.8

学科:MICROSCOPY SCIE Q1 1 / 8

93.75

2024-2025年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:MICROSCOPY SCIE Q1 2 / 8

81.3

学科:MICROSCOPY SCIE Q1 1 / 8

93.75


中国学者近期发文

1
GCI: A generative CT interpolation model for rapid wood CT scannin

Author:Wang, Peiran; Shen, Hao; Xiong, Fuquan; Yu, Min; Liu, Shengquan

Journal: MICRON. 2026; Vol. 205, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.104023

2
Experimentally-validated multi-slice simulation of electron diffraction pattern

Author:Xiao, Xinke; Ma, Tianle; Shao, Lingxuan; Liu, Jun; Shi, Qiwei; Cai, Canying; Roux, Stéphane

Journal: MICRON. 2026; Vol. 204, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.104025

3
Monte Carlo simulation of secondary electron emission in TixNy based on first principle calculatio

Author:Yan, Runqi; Zhai, Yonggui; Wang, Hongguang; Li, Yongdong; Cao, Meng

Journal: MICRON. 2026; Vol. 203, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.103994

4
The morphology of male accessory glands in the Glenea cantor (Fabricius, 1787) (Coleoptera: Cerambycidae: Lamiinae

Author:Tan, Hui-Xin; Gao, Qiong-Hua; Tong, Xin

Journal: MICRON. 2026; Vol. 203, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.103999

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Widening effect of SICM topography measurement based on electrolyte concentration gradient with dual-barrel pipett

Author:Wang, Zhiwu; Liao, Xiaobo; Zhuang, Jian; Qi, Qisong; Yuan, Yuan; Ning, Shaohui; Wang, Wenhao

Journal: MICRON. 2026; Vol. 203, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2026.104004

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Image drift compensation in scanning electron microscopy facilitated by an external scanning and imaging syste

Author:Liu, Ling'en; Zhang, Yixu; Wang, Ni; Tang, Liang; Yan, Chaoyang; Zhou, Jianli; Gao, Wenjie; Zhang, Yuefei; Lv, Junxia; Zhang, Ze

Journal: MICRON. 2025; Vol. 196, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103848

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Adaptive AFM image reconstruction through frequency coefficient selection based on block compressed sensin

Author:Hu, Yifan; Li, Yingzi; Cheng, Peng; Lin, Rui; Qian, Jianqiang; Yuan, Quan; Chen, Yanan

Journal: MICRON. 2025; Vol. 196, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103849

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Self-aligned protective shield for preparing beam-sensitive MEMS-based chip samples using focused ion bea

Author:Lu, Haozhe; Jin, Chuanhong

Journal: MICRON. 2025; Vol. 196, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103863

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Dynamics of single Au nanoparticles on graphene simultaneously in real-and diffraction space by time-series convergent beam electron diffractio

Author:Mustafi, Sara; Cai, Rongsheng; Sullivan-Allsop, Sam; Smith, Matthew; Clark, Nicholas J.; Lindley, Matthew; Peng, Ding; Novoselov, Kostya S.; Haigh, Sarah J.; Latychevskaia, Tatiana

Journal: MICRON. 2025; Vol. 194, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103814

10
A review of denoising methods in single-particle cryo-E

Author:Jiang, Linhua; Zhu, Bo; Long, Wei; Xu, Jiahao; Wu, Yi; Li, Yao-Wang

Journal: MICRON. 2025; Vol. 194, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.micron.2025.103817


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Micron

国际简称:MICRON参考译名:美光

年发文量:126 CiteScore:4.5 是否预警:否 Gold OA文章占比:28.89% 研究类文章占比:97.62%

杂志社联系方式:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB

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