Journal Of Electronic Imaging（中文译名：《电子影像杂志》），ISSN：1017-9909，EISSN：1560-229X，是SPIE出版的国际性学术期刊，创刊于1992年，以Quarterly形式稳定发行，2026年总发文量约324篇。该刊采用非OA开放访问，学科归属为工程技术 - 成像科学与照相技术。该刊是计算机科学、工程电子与电气领域的国际权威刊物，已被SCI（科学引文索引）、SCIE（科学引文索引扩展版）、EI（工程索引）等国际主流学术数据库收录。2026年期刊影响因子达1，2025年期刊CiteScore为2.4，2025年期刊自引率约10%，在中科院期刊分区体系中位列计算机科学大类4区，在所属学科领域具备高学术影响力与国际认可度。Journal Of Electronic Imaging长期聚焦计算机科学、工程电子与电气及相关产业的技术应用前沿，平均审稿周期约4.0个月，审稿流程高效稳定。在稿件录用评判中，该刊将创新性与前沿性作为核心遴选标准，重点收录能够对计算机科学、工程电子与电气领域的落地与发展产生实质性推动价值的研究成果。
杂志介绍
JCR分区
Q4
中科院分区
4区
影响因子
1
CiteScore
2.4
期刊收录
SCI、SCIE、EI
期刊评价
名词解释：
影响因子（Impact Factor, IF）：指该期刊前两年发表的文章，在第三年的平均被引用次数。它反映了期刊的近期平均影响力和热度。
中科院分区：中科院分区表是国内主流的学术期刊分级评价工具，核心意义是建立跨学科可比的统一评价标尺，为职称评审、学位授予、科研立项等科研管理工作提供标准化量化依据，同时帮助科研人员筛选优质期刊、规避学术风险，适配国内本土化的科研评价需求。
期刊分区表
《新锐期刊分区表》（2026年3月发布）
| 大类学科 | 小类学科 | Top期刊 | 综述期刊 |
|---|---|---|---|
|
计算机科学
4区
|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
OPTICS
光学
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY
成像科学与照相技术
4区
4区
4区
|
否 | 否 |
期刊分区表（2025年3月升级版）
| 大类学科 | 小类学科 | Top期刊 | 综述期刊 |
|---|---|---|---|
|
计算机科学
4区
|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY
成像科学与照相技术
OPTICS
光学
4区
4区
4区
|
否 | 否 |
期刊分区表（2023年12月升级版）
| 大类学科 | 小类学科 | Top期刊 | 综述期刊 |
|---|---|---|---|
|
计算机科学
4区
|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY
成像科学与照相技术
OPTICS
光学
4区
4区
4区
|
否 | 否 |
JCR分区
2025-2026年最新版
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
|---|---|---|---|---|
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 321 / 369 |
13.1 |
| 学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 35 / 39 |
11.5 |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q4 | 106 / 129 |
18.2 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 308 / 371 |
17.12 |
| 学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 34 / 39 |
14.1 |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q4 | 109 / 129 |
15.89 |
2024-2025年最新版
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
|---|---|---|---|---|
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 304 / 368 |
17.5 |
| 学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 33 / 36 |
9.7 |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q4 | 103 / 125 |
18 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 299 / 368 |
18.89 |
| 学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 34 / 36 |
6.94 |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q4 | 105 / 125 |
16.4 |
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Journal Of Electronic Imaging
国际简称：J ELECTRON IMAGING参考译名：电子影像杂志
杂志社联系方式：I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151
