Microelectronics Reliability（中文译名：《微电子可靠性》），ISSN：0026-2714，EISSN：1872-941X，是Elsevier Ltd出版的国际性学术期刊，创刊于1964年，以Monthly形式稳定发行，2026年总发文量约303篇。该刊采用非OA开放访问，学科归属为工程技术 - 工程：电子与电气。该刊是工程技术、工程电子与电气领域的国际权威刊物，已被SCI（科学引文索引）、SCIE（科学引文索引扩展版）、EI（工程索引）等国际主流学术数据库收录。2026年期刊影响因子达2.5，2025年期刊CiteScore为4.5，2025年期刊自引率约12%，在中科院期刊分区体系中位列工程技术大类4区，在所属学科领域具备高学术影响力与国际认可度。Microelectronics Reliability长期聚焦工程技术、工程电子与电气及相关产业的技术应用前沿，平均审稿周期较快,2-4周，审稿流程高效稳定。在稿件录用评判中，该刊将创新性与前沿性作为核心遴选标准，重点收录能够对工程技术、工程电子与电气领域的落地与发展产生实质性推动价值的研究成果。
杂志介绍
JCR分区
Q3
中科院分区
4区
影响因子
2.5
CiteScore
4.5
期刊收录
SCI、SCIE、EI
期刊评价
名词解释：
影响因子（Impact Factor, IF）：指该期刊前两年发表的文章，在第三年的平均被引用次数。它反映了期刊的近期平均影响力和热度。
中科院分区：中科院分区表是国内主流的学术期刊分级评价工具，核心意义是建立跨学科可比的统一评价标尺，为职称评审、学位授予、科研立项等科研管理工作提供标准化量化依据，同时帮助科研人员筛选优质期刊、规避学术风险，适配国内本土化的科研评价需求。
期刊分区表
《新锐期刊分区表》（2026年3月发布）
| 大类学科 | 小类学科 | Top期刊 | 综述期刊 |
|---|---|---|---|
|
工程技术
4区
|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
纳米科技
PHYSICS, APPLIED
物理：应用
4区
4区
4区
|
否 | 否 |
期刊分区表（2025年3月升级版）
| 大类学科 | 小类学科 | Top期刊 | 综述期刊 |
|---|---|---|---|
|
工程技术
3区
|
PHYSICS, APPLIED
物理：应用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
纳米科技
3区
4区
4区
|
否 | 否 |
期刊分区表（2023年12月升级版）
| 大类学科 | 小类学科 | Top期刊 | 综述期刊 |
|---|---|---|---|
|
工程技术
4区
|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：电子与电气
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
纳米科技
PHYSICS, APPLIED
物理：应用
4区
4区
4区
|
否 | 否 |
JCR分区
2025-2026年最新版
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
|---|---|---|---|---|
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 204 / 369 |
44.9 |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 109 / 148 |
26.7 |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 114 / 191 |
40.6 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 266 / 371 |
28.44 |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 111 / 148 |
25.34 |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 140 / 191 |
26.96 |
2024-2025年最新版
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
|---|---|---|---|---|
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 227 / 368 |
38.5 |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 120 / 147 |
18.7 |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 134 / 187 |
28.6 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 274 / 368 |
25.68 |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 116 / 147 |
21.43 |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 140 / 187 |
25.4 |
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Microelectronics Reliability
国际简称：MICROELECTRON RELIAB参考译名：微电子可靠性
杂志社联系方式：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
