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Iet Circuits Devices & Systems

Iet Circuits Devices & Systems杂志,由Wiley出版,于2007年创刊,Bi-monthly,出版语言English,ISSN:1751-858X,E-ISSN:1751-8598。

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Iet Circuits Devices & Systems
Iet Circuits Devices & Systems
Iet Circuits Devices & Systems
SCI SCIE

杂志介绍

JCR分区
Q3
中科院分区
4区
影响因子
1.8
CiteScore
3.8
期刊收录
SCI、SCIE

Iet Circuits Devices & Systems(中文译名:《集成电路设备和系统》),ISSN:1751-858X,EISSN:1751-8598,是Wiley出版的国际性学术期刊,创刊于2007年,以Bi-monthly形式稳定发行,2026年总发文量约31篇。该刊采用OA开放访问,学科归属为工程技术 - 工程:电子与电气。该刊是工程技术、工程电子与电气领域的国际权威刊物,已被SCI(科学引文索引)、SCIE(科学引文索引扩展版)等国际主流学术数据库收录。2026年期刊影响因子达1.8,2025年期刊CiteScore为3.8,2025年期刊自引率约5.6%,在中科院期刊分区体系中位列工程技术大类4区,在所属学科领域具备高学术影响力与国际认可度。Iet Circuits Devices & Systems长期聚焦工程技术、工程电子与电气及相关产业的技术应用前沿,平均审稿周期较慢,6-12周,审稿流程高效稳定。在稿件录用评判中,该刊将创新性与前沿性作为核心遴选标准,重点收录能够对工程技术、工程电子与电气领域的落地与发展产生实质性推动价值的研究成果。

从全球发文格局来看,IndiaCHINA MAINLAND、Iran、USA、Canada、Taiwan、South Korea等为核心发文国家与地区;

期刊评价

名词解释:

影响因子(Impact Factor, IF):指该期刊前两年发表的文章,在第三年的平均被引用次数。它反映了期刊的近期平均影响力和热度。

中科院分区:中科院分区表是国内主流的学术期刊分级评价工具,核心意义是建立跨学科可比的统一评价标尺,为职称评审、学位授予、科研立项等科研管理工作提供标准化量化依据,同时帮助科研人员筛选优质期刊、规避学术风险,适配国内本土化的科研评价需求。

期刊分区表

《新锐期刊分区表》(2026年3月发布)

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区

期刊分区表(2025年3月升级版)

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区

期刊分区表(2023年12月升级版)

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气
4区

JCR分区

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 266 / 369

28

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 295 / 371

20.62

2024-2025年最新版

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 368

21.6

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 299 / 368

18.89


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Fast-Locking Frequency-Hopping PLL Using Dual-Edge Low-Duty-Cycle PFD With Cycle Slip Suppressio

Author:Ghaemnia, Afifeh; Yang, Jincheng; Fei, Xiaojiong; Zhang, Guoqiang

Journal: IET CIRCUITS DEVICES & SYSTEMS. 2026; Vol. 2026, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/cds2/9011136

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Analysis and Evaluation of Approximate Ripple-Carry Adders in the Presence of a Single Functional Error (SFE

Author:Huang, Junqi; Kumar, T. Nandha; Almurib, Haider A. F.; Lombardi, Fabrizio

Journal: IET CIRCUITS DEVICES & SYSTEMS. 2026; Vol. 2026, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/cds2/9917935


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Iet Circuits Devices & Systems

国际简称:IET CIRC DEVICE SYST参考译名:集成电路设备和系统

年发文量:31 CiteScore:3.8 是否预警:否 Gold OA文章占比:100.00% 研究类文章占比:96.77%

杂志社联系方式:WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774

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