《Iet Image Processing》期刊

杂志介绍

JCR分区

中科院分区

4区

影响因子

2.4

CiteScore

5.9

期刊收录

SCI、SCIE、EI

Iet Image Processing（中文译名：《图像处理》），ISSN：1751-9659，EISSN：1751-9667，是Wiley出版的国际性学术期刊，创刊于2007年，以Monthly形式稳定发行，2026年总发文量约269篇。该刊采用OA开放访问，学科归属为工程技术 - 工程：电子与电气。该刊是计算机科学、计算机人工智能领域的国际权威刊物，已被SCI（科学引文索引）、SCIE（科学引文索引扩展版）、EI（工程索引）等国际主流学术数据库收录。2026年期刊影响因子达2.4，2025年期刊CiteScore为5.9，2025年期刊自引率约4.2%，在中科院期刊分区体系中位列计算机科学大类4区，在所属学科领域具备高学术影响力与国际认可度。Iet Image Processing长期聚焦计算机科学、计算机人工智能及相关产业的技术应用前沿，平均审稿周期约6.0个月，审稿流程高效稳定。在稿件录用评判中，该刊将创新性与前沿性作为核心遴选标准，重点收录能够对计算机科学、计算机人工智能领域的落地与发展产生实质性推动价值的研究成果。

从全球发文格局来看，CHINA MAINLANDIndia、Iran、USA、Pakistan、England、France等为核心发文国家与地区；

期刊评价

名词解释：

影响因子（Impact Factor, IF）：指该期刊前两年发表的文章，在第三年的平均被引用次数。它反映了期刊的近期平均影响力和热度。

中科院分区：中科院分区表是国内主流的学术期刊分级评价工具，核心意义是建立跨学科可比的统一评价标尺，为职称评审、学位授予、科研立项等科研管理工作提供标准化量化依据，同时帮助科研人员筛选优质期刊、规避学术风险，适配国内本土化的科研评价需求。

期刊分区表

《新锐期刊分区表》（2026年3月发布）

大类学科	小类学科	Top期刊	综述期刊
计算机科学 4区	COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 计算机：人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 4区 3区 4区	否	否

期刊分区表（2025年3月升级版）

大类学科	小类学科	Top期刊	综述期刊
计算机科学 4区	COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 计算机：人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 4区 4区 4区	否	否

期刊分区表（2023年12月升级版）

大类学科	小类学科	Top期刊	综述期刊
计算机科学 4区	COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 计算机：人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 4区 4区 4区	否	否

JCR分区

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE	SCIE	Q3	139 / 210	34
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	215 / 369	41.9
学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY	SCIE	Q3	27 / 39	32.1
学科：COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE	SCIE	Q3	146 / 210	30.71
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	239 / 371	35.71
学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY	SCIE	Q3	28 / 39	29.49

2024-2025年最新版

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE	SCIE	Q3	130 / 204	36.5
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	207 / 368	43.9
学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY	SCIE	Q3	25 / 36	31.9
学科：COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE	SCIE	Q3	139 / 204	32.11
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	237 / 368	35.73
学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY	SCIE	Q3	26 / 36	29.17

中国学者近期发文

P2TNet: Using Pyramid Pooling Transformer and Reverse Attention for Polyp Segmentatio

Author:Liu, Zhaojun; Xing, Shuaijie; Zhang, Xiaoli; Feng, Yuncong; Hu, Xiaohan

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70366

Robust Driver Facial Expression Recognition Based on Multi-Scale Feature Interaction and Illumination Balanc

Author:Yanzhao, Yang; Jian, Wang; Huangshui, Hu; Yu, Cao

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70376

Efficient Multi-Scale Feature Fusion Model for 3D Indoor Object Detectio

Author:Liu, Yi; Deng, Guoqing; Liu, Yong; Zhang, Chaofan

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70339

USIF-Net: U-Shaped Symmetrical Interactive Fusion Network for Industrial Surface Defect Detectio

Author:Zhang, Laomo; Yang, Zeyu; Ma, Ying; Li, Guowei

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70364

GCD-Net: A Gated and Cross-Dynamically Enhanced Network for Accurate Extraction of Offshore Raft Aquacultur

Author:Wang, Yu; Li, Lianwei; Xue, Cunjin; Zheng, Zhi; Wu, Shiyu

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70371

HSM-MAE: Hilbert-SSM Memory Autoencoder for Real-Time Video Anomaly Detectio

Author:Zhang, KaiLiang; Wang, Yuying

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70369

Unsupervised Low-Light Image Enhancement via Adaptive Dual-Path Frequency Networ

Author:Li, Yang; Ren, Wenmiao; Zhu, Xiaoyang; Zhou, Kai

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70363

PhantomVeil: Physical Camouflage for Multi-Object Tracking Deep Neural Network

Author:Chen, Jinyin; Li, Huanran; Han, Ye

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70353

Advancing Solar Panel Inspection: Enhanced Defect Detection With YOLOv8-D

Author:Lijuan, Li; Zhao, Jingyong; Gang, Xie

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70342

Towards Unified Transformer for UAV-Based Multi-Task Oriented Object Detectio

Author:Sun, Jiazhi; Li, Dongdong; Kuai, Yangliu; Belotserkovsky, Alexei; Lukashevich, Pavel

Journal: IET IMAGE PROCESSING. 2026; Vol. 20, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1049/ipr2.70343

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