Ieee Design & Test

Ieee Design & Test（中文译名：《IEEE设计与测试》），ISSN：2168-2356，EISSN：2168-2364，是IEEE Computer Society出版的国际性学术期刊，创刊于2013年，以6 issues/year形式稳定发行，2026年总发文量约38篇。该刊采用非OA开放访问，学科归属为COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE - ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC。该刊是计算机科学、计算机硬件领域的国际权威刊物，已被SCI（科学引文索引）、SCIE（科学引文索引扩展版）等国际主流学术数据库收录。2026年期刊影响因子达2，2025年期刊CiteScore为4.2，2025年期刊自引率约5%，在中科院期刊分区体系中位列计算机科学大类4区，在所属学科领域具备高学术影响力与国际认可度。Ieee Design & Test长期聚焦计算机科学、计算机硬件及相关产业的技术应用前沿，在稿件录用评判中，该刊将创新性与前沿性作为核心遴选标准，重点收录能够对计算机科学、计算机硬件领域的落地与发展产生实质性推动价值的研究成果。