Ieee Transactions On Device And Materials Reliability（中文译名：《IEEE Transactions on Device and Materials Reliability》），ISSN：1530-4388，EISSN：1558-2574，是Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的国际性学术期刊，创刊于2001年，以Quarterly形式稳定发行，2026年总发文量约112篇。该刊采用非OA开放访问，学科归属为工程技术 - 工程：电子与电气。该刊是工程技术、工程电子与电气领域的国际权威刊物，已被SCI（科学引文索引）、SCIE（科学引文索引扩展版）、EI（工程索引）等国际主流学术数据库收录。2026年期刊影响因子达2.7，2025年期刊CiteScore为4.6，2025年期刊自引率约7.4%，在中科院期刊分区体系中位列工程技术大类3区，在所属学科领域具备高学术影响力与国际认可度。Ieee Transactions On Device And Materials Reliability长期聚焦工程技术、工程电子与电气及相关产业的技术应用前沿，平均审稿周期较慢,6-12周，审稿流程高效稳定。在稿件录用评判中，该刊将创新性与前沿性作为核心遴选标准，重点收录能够对工程技术、工程电子与电气领域的落地与发展产生实质性推动价值的研究成果。
从全球发文格局来看，USACHINA MAINLAND、India、Taiwan、France、Italy、Belgium等为核心发文国家与地区；INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)IMEC、CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)、STMICROELECTRONICS、TECHNISCHE UNIVERSITAT WIEN、NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY、NATIONAL YANG MING CHIAO TUNG UNIVERSITY等高校与科研机构是期刊的主要发文单位。